najoNanosystems: Physics, Chemistry, MathematicsНаносистемы: физика, химия, математика2220-80542305-7971Университет ИТМОnajo-1170Research ArticlePHYSICSФИЗИКАX-ray scattering from layered nanosystems with rough interfacesРассеяние рентгеновского излучения на слоистых наносистемах с шероховатыми интерфейсамиУльяновС. В.UlyanovS. V.

Санкт-Петербург 

Professor, D.Sc. 

Saint Petersburg 

ulyanov_sv@mail.ruРомановВ. П.RomanovV. P.

Санкт-Петербург

Professor, D.Sc. 

Saint Petersburg

vpromanov@mail.ruУздинВ. М.UzdinV. M.

Санкт-Петербург

Professor, D.Sc. 

Saint Petersburg 

v_uzdin@mail.ruСанкт-Петербургский государственный университет, физический факультет ; Санкт-Петербургский торгово-экономический институтSaint Petersburg State University, Department of Physics ; t. Petersburg Institute Commerce and EconomicsСанкт-Петербургский государственный университет, физический факультетSaint Petersburg State University, Department of PhysicsСанкт-Петербургский государственный университет, физический факультет ; Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптикиSaint Petersburg State University, Department of Physics ; Saint Petersburg National Research University of Information Technologies, Mechanics and Optics20121908202533110122Copyright © Ulyanov S.V., Romanov V.P., Uzdin V.M., 20252025Ульянов С.В., Романов В.П., Уздин В.М.Ulyanov S.V., Romanov V.P., Uzdin V.M.Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.https://nanojournal.ifmo.ru/jour/article/view/1170

The theory of X-ray scattering from the multilayers with rough interfaces is developed. Both kinematic (Born) and dynamic (the distorted wave Born) approaches are considered. Modeling of x-ray specular scattering for the superlattices with different periods as well as amplitudes and correlation lengths of interface roughness are performed.The results of calculations in different approximations are compared with experiment.

Развита теория рассеяния рентгеновского излучения на слоистых структурах с шероховатыми интерфейсами. Рассмотрено как кинематическое (борновское), так и динамическое приближения (борновское с искаженными волнами ). Выполнены расчеты рентгеновских спектров зеркального рассеяния для сверхрешеток с разными периодами, амплитудами и корреляционными длинами шероховатостей интерфейсов. Результаты расчетов в разных приближениях сравниваются с экспериментом.

слоистые наноструктурысверхрешеткишероховатость интерфейсоврассеяние синхротронного и рентгеновского излученияlayered nanosystemssuperlatticesinterface roughnessx-ray and synchrotron radiation scatteringРабота выполнена при поддержке грантами СПбГУ № 11.38.45.2011, РФФИ № 12- 02-01016-а и ФЦП «Научные и научно-педагогические кадры инновационной России на 2009-2013 годы» (контракты P 689, NK-526P, 14.740.11.0879, 16.740.11.0030).ReferencesГрюнберг П.А. // УФН. — 2008. — V. 178. — P. 1349.Грюнберг П.А. // УФН. — 2008. — V. 178. — P. 1349.Rodberg L.S., Thaler R.M. Introduction to the quantum theory of scattering, 2nd ed.— New-York and London: Academic Press, 1967.— 400 p.Rodberg L.S., Thaler R.M. Introduction to the quantum theory of scattering, 2nd ed.— New-York and London: Academic Press, 1967.— 400 p.Sinha S.K., Sirota E.B.,Garoff S., Stanley H.B. // Phys. Rev. B. — 1988. — V.38. — P.2297.Sinha S.K., Sirota E.B.,Garoff S., Stanley H.B. // Phys. Rev. B. — 1988. — V.38. — P.2297.Renaud G., Lazzari R., Leroy F. // Serf. Sci. Rep. B. — 2009. — V.64. — P.255.Renaud G., Lazzari R., Leroy F. // Serf. Sci. Rep. B. — 2009. — V.64. — P.255.Борн М., Вольф Э. Основы оптики. — 2-е изд., М.: Наука, 1973. — 720 с.Борн М., Вольф Э. Основы оптики. — 2-е изд., М.: Наука, 1973. — 720 с.Holy V., Baumbach T. // Rev. B. — 1994. — V. 49. — 10668.Holy V., Baumbach T. // Rev. B. — 1994. — V. 49. — 10668.Pietsch U., Holy V., Baumbach T. High-resolution X-ray scattering: From thin films to lateral nanostructures, 2nd ed. — New-York: Springer-Verlag, 2004. — 409 p.Pietsch U., Holy V., Baumbach T. High-resolution X-ray scattering: From thin films to lateral nanostructures, 2nd ed. — New-York: Springer-Verlag, 2004. — 409 p.Romanov V. P., Ulyanov S. V., Uzdin V. M., Nowak G., Vadala M., Zabel H.// J. Phys. D: Appl. Phys. — 2008. — V.41. — P. 115401.Romanov V. P., Ulyanov S. V., Uzdin V. M., Nowak G., Vadala M., Zabel H.// J. Phys. D: Appl. Phys. — 2008. — V.41. — P. 115401.Romanov V. P., Ulyanov S. V., Uzdin V. M., Nowak G., Shokuie K., Zabel H. // Phys. Rev. B. — 2010. — V.82. — P. 165416.Romanov V. P., Ulyanov S. V., Uzdin V. M., Nowak G., Shokuie K., Zabel H. // Phys. Rev. B. — 2010. — V.82. — P. 165416.

The authors declare that there are no conflicts of interest present.