<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="en"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">najo</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="en">Nanosystems: Physics, Chemistry, Mathematics</journal-title><trans-title-group xml:lang="ru"><trans-title>Наносистемы: физика, химия, математика</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">2220-8054</issn><issn pub-type="epub">2305-7971</issn><publisher><publisher-name>Университет ИТМО</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">najo-1205</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>Статьи</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>Wavefront reconstruction with a reference-free digital CCD-registration of multispectral speckle-patterns</article-title><trans-title-group xml:lang="ru"><trans-title>Восстановление волнового фронта при безопорной цифровой ПЗС-регистрации мультиспектральных спекл-картин</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Петров</surname><given-names>Н. В.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Petrov</surname><given-names>N. V.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Санкт-Петербург</p></bio><email xlink:type="simple">Nickolai.Petrov@gmail.com</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Беспалов</surname><given-names>В. Г.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Bespalov</surname><given-names>V. G.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Санкт-Петербург</p></bio><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Волков</surname><given-names>М. В.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Volkov</surname><given-names>M. V.</given-names></name></name-alternatives><xref ref-type="aff" rid="aff-2"/></contrib></contrib-group><aff-alternatives id="aff-1"><aff xml:lang="ru">Санкт-Петербургский государственный университет информационных технологий, механики и оптики<country>Россия</country></aff></aff-alternatives><aff-alternatives id="aff-2"><aff xml:lang="ru">Научно-исследовательский институт физики им. В. А. Фока<country>Россия</country></aff></aff-alternatives><pub-date pub-type="collection"><year>2011</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>18</day><month>08</month><year>2025</year></pub-date><volume>2</volume><issue>1</issue><fpage>82</fpage><lpage>90</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; Petrov N.V., Bespalov V.G., Volkov M.V., 2025</copyright-statement><copyright-year>2025</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">Петров Н.В., Беспалов В.Г., Волков М.В.</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">Petrov N.V., Bespalov V.G., Volkov M.V.</copyright-holder><license license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://nanojournal.ifmo.ru/jour/article/view/1205">https://nanojournal.ifmo.ru/jour/article/view/1205</self-uri><abstract><p>.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="ru"><p>В работе представлен метод восстановления волнового фронта, основанный на использовании набора спекл-картин, сформированных различными длинами волн, и итерационном алгоритме решения уравнения распространения волн в различных плоскостях объема спекл-поля. С помощью численного моделирования восстановлены изображения амплитудных и фазовых объектов и показана возможность расширения данной методики с использованием распределений интенсивностей, записанных в разных плоскостях объема спекл-поля. Экспериментально продемонстрирована возможность восстановления волнового фронта с использованием спекл-картин на трех длинах волн, соответствующих спектральной чувствительности RGB-каналов ПЗС-матрицы, или излучения спектральных компонент суперконтинуума. Первое позволяет записывать три различных распределения интенсивности за одну экспозицию, что дает преимущества при анализе быстропротекающих процессов. Второй вариант подразумевает использование большого количества длин волн, что обеспечивает более быструю и точную сходимость метода, и привлекает простотой и надежностью схемы записи, использующей волоконные оптические элементы.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>фазовая проблема</kwd><kwd>восстановление волнового фронта</kwd><kwd>спеклы</kwd><kwd>теория диффракции</kwd></kwd-group><funding-group xml:lang="ru"><funding-statement>Работа выполнена при поддержке программы «У.М.Н.И.К» и ФЦП «Научные и научно-педагогические кадры инновационной России» на 2009-2013 годы, ГК No. П872.</funding-statement></funding-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Gerchberg R.W, Saxton W.O. Phase determination from image and diffraction plane pictures in the electron microscope // Optik, 1971, 34, 275-284.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Gerchberg R.W, Saxton W.O. Phase determination from image and diffraction plane pictures in the electron microscope // Optik, 1971, 34, 275-284.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Gerchberg R.W, Saxton W.O. A practical algorithm for the determination of the phase from image and diffraction plane pictures // Optik, 1972, 35, 237-246.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Gerchberg R.W, Saxton W.O. A practical algorithm for the determination of the phase from image and diffraction plane pictures // Optik, 1972, 35, 237-246.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Fienup J.R. Phase retrieval algorithms: a comparison // Appl. Opt. 1982, 21, 2758-2769.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Fienup J.R. Phase retrieval algorithms: a comparison // Appl. Opt. 1982, 21, 2758-2769.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Воронцов М.А., Сивоконь В.П. Итерационные методы восстановления фазы по распределению интенсивности // Голография и ее применение, 1986. ФТИ, Л.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Воронцов М.А., Сивоконь В.П. Итерационные методы восстановления фазы по распределению интенсивности // Голография и ее применение, 1986. ФТИ, Л.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Ivanov V.Yu., Sivokon,V.P., Vorontsov M.A. Phase retrieval from a set of intensity measurements: theory and experiment // J. Opt. Soc. Am. A, 1992, 9, 1515-1524.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Ivanov V.Yu., Sivokon,V.P., Vorontsov M.A. Phase retrieval from a set of intensity measurements: theory and experiment // J. Opt. Soc. Am. A, 1992, 9, 1515-1524.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Pedrini G., Osten W., Zhang Y., Wave-front reconstruction from a sequence of interferograms recorded at different planes // Opt. Lett. 2005, 30, 833-835.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Pedrini G., Osten W., Zhang Y., Wave-front reconstruction from a sequence of interferograms recorded at different planes // Opt. Lett. 2005, 30, 833-835.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Almoro P., Pedrini G., Osten W., Complete wavefront reconstruction using sequential intensity measurements of a volume speckle field // Appl. Opt. 2006, 45, 8596-8605.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Almoro P., Pedrini G., Osten W., Complete wavefront reconstruction using sequential intensity measurements of a volume speckle field // Appl. Opt. 2006, 45, 8596-8605.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit8"><label>8</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Almoro P., Maallo A., Hanson S., Fast-convergent algorithm for speckle-based phase retrieval and a design for dynamic wavefront sensing // Appl. Opt. 2009, 48, 1485-1493.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Almoro P., Maallo A., Hanson S., Fast-convergent algorithm for speckle-based phase retrieval and a design for dynamic wavefront sensing // Appl. Opt. 2009, 48, 1485-1493.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit9"><label>9</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Gabor D. Light and Information // Progress in Optics, v. 1, 1, ed. E. Wolf, Amsterdam, 1961, 109-153.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Gabor D. Light and Information // Progress in Optics, v. 1, 1, ed. E. Wolf, Amsterdam, 1961, 109-153.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit10"><label>10</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Малов А.Н. Спекл-структура когерентного изображения в терминах теории степеней свободы оптической системы // Голография: теоретические и прикладные вопросы, 1995, РИО ПГКУ, Москва-Тирасполь.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Малов А.Н. Спекл-структура когерентного изображения в терминах теории степеней свободы оптической системы // Голография: теоретические и прикладные вопросы, 1995, РИО ПГКУ, Москва-Тирасполь.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit11"><label>11</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Kirkland E., Improved high resolution image processing of bright field electron micrographs: I. Theory // Ultramicroscopy 1984, 15(3), 151-172.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Kirkland E., Improved high resolution image processing of bright field electron micrographs: I. Theory // Ultramicroscopy 1984, 15(3), 151-172.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit12"><label>12</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Allen L.J., Oxley M. P., Phase retrieval from series of images obtained by defocus variation // Opt. Commun. 2001, 199 (1-4), 65-75.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Allen L.J., Oxley M. P., Phase retrieval from series of images obtained by defocus variation // Opt. Commun. 2001, 199 (1-4), 65-75.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit13"><label>13</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Петров Н.В., Беспалов В.Г. Использование многодлинноволновой цифровой спекл-фотографии для определения амплитудно-фазовых характеристик объекта // Сб. трудов V Международной конференции молодых ученых и специалистов «Оптика-2007», Санкт-Петербург 2007. 78-79.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Петров Н.В., Беспалов В.Г. Использование многодлинноволновой цифровой спекл-фотографии для определения амплитудно-фазовых характеристик объекта // Сб. трудов V Международной конференции молодых ученых и специалистов «Оптика-2007», Санкт-Петербург 2007. 78-79.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit14"><label>14</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Bao P., Zhang F., Pedrini G., Osten W., Phase retrieval using multiple illumination wavelengths // Opt. Lett. 2008, 33, 309-311.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Bao P., Zhang F., Pedrini G., Osten W., Phase retrieval using multiple illumination wavelengths // Opt. Lett. 2008, 33, 309-311.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit15"><label>15</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Fienup J. R., Invariant error metrics for image reconstruction // Appl. Opt. 1997, 36, 8352-8357.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Fienup J. R., Invariant error metrics for image reconstruction // Appl. Opt. 1997, 36, 8352-8357.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit16"><label>16</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Moh J., Low H.M., Wientjes G., Characterization of the Nikon D70 Digital Camera // Archive of projects of Stanford Center for Image Systems Engineering, EE 362/Psych 221, Stanford 2005. URL: http://scien.stanford.edu/pages/labsite/2005/psych221/projects/05/joanmoh/index.html (Accessed 10 January 2011).</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Moh J., Low H.M., Wientjes G., Characterization of the Nikon D70 Digital Camera // Archive of projects of Stanford Center for Image Systems Engineering, EE 362/Psych 221, Stanford 2005. URL: http://scien.stanford.edu/pages/labsite/2005/psych221/projects/05/joanmoh/index.html (Accessed 10 January 2011).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit17"><label>17</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Petrov N.V., Bespalov V.G., Gorodetsky A.A. Phase retrieval method for multiple wavelength speckle patterns // in Speckle 2010: "Optical Metrology Proc. SPIE 2010, Vol. 7387, 73871T.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Petrov N.V., Bespalov V.G., Gorodetsky A.A. Phase retrieval method for multiple wavelength speckle patterns // in Speckle 2010: "Optical Metrology Proc. SPIE 2010, Vol. 7387, 73871T.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit18"><label>18</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Беспалов В.Г, Петров Н.В. Выделение спектральных компонент излучения суперконтинуума для использования в методе цифровой спекл-фотографии // Сб. трудов XII всероссийской школы-семинара «Физика и применение микроволн». М.: МГУ, 2009.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Беспалов В.Г, Петров Н.В. Выделение спектральных компонент излучения суперконтинуума для использования в методе цифровой спекл-фотографии // Сб. трудов XII всероссийской школы-семинара «Физика и применение микроволн». М.: МГУ, 2009.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit19"><label>19</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Петров Н.В, Беспалов В.Г. Многодлинноволновая цифровая спекл-фотография // Сб. конкурсных докладов Всероссийской молодежной конференции «VII Всероссийский молодежный Самарский конкурс научных работ по оптике и лазерной физике» 2009, СамГУ, Самара. 180-186.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Петров Н.В, Беспалов В.Г. Многодлинноволновая цифровая спекл-фотография // Сб. конкурсных докладов Всероссийской молодежной конференции «VII Всероссийский молодежный Самарский конкурс научных работ по оптике и лазерной физике» 2009, СамГУ, Самара. 180-186.</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
