<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="en"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">najo</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="en">Nanosystems: Physics, Chemistry, Mathematics</journal-title><trans-title-group xml:lang="ru"><trans-title>Наносистемы: физика, химия, математика</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">2220-8054</issn><issn pub-type="epub">2305-7971</issn><publisher><publisher-name>Университет ИТМО</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">najo-1212</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>Статьи</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>Optical functions and band gap of porous silicon at the energy 0,1–6,2 Ev</article-title><trans-title-group xml:lang="ru"><trans-title>Оптические функции и параметры зонной структуры тонких слоев пористого кремния в диапазоне энергий 0,1–6,2 эВ</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Ян</surname><given-names>Д. Т.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Yan</surname><given-names>D. T.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Хабаровск</p></bio><email xlink:type="simple">dmitry_yan@mail.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib></contrib-group><aff xml:lang="ru" id="aff-1"><institution>Дальневосточный государственный университет путей сообщения</institution><country>Russian Federation</country></aff><pub-date pub-type="collection"><year>2011</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>18</day><month>08</month><year>2025</year></pub-date><volume>2</volume><issue>1</issue><fpage>116</fpage><lpage>120</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; Yan D.T., 2025</copyright-statement><copyright-year>2025</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">Ян Д.Т.</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">Yan D.T.</copyright-holder><license xml:lang="ru" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.</license-p></license><license xml:lang="en" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://nanojournal.ifmo.ru/jour/article/view/1212">https://nanojournal.ifmo.ru/jour/article/view/1212</self-uri><abstract><p>.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="ru"><p>Проведено исследование оптических свойств слоев пористого кремния, полученного на кристаллическом кремнии р-типа (100) методом анодного травления. Из оптических спектров на пропускание и отражение проведена оценка основных оптических характеристик пористого кремния. Установлено, что явление видимой фотолюминесценции пористого кремния обусловлено изменением параметров зонной структуры.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>пористый кремний</kwd><kwd>фотолюминесценция</kwd><kwd>рекомбинация</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Иоффе А.Ф. Физика полупроводников. М.: Изд-во АН СССР, 1957. 490 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Иоффе А.Ф. Физика полупроводников. М.: Изд-во АН СССР, 1957. 490 с.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Canham L.T. Visible photoluminescence of porous Si // Appl. Phys. Lett., 1990, 57, P. 1046–1049.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Canham L.T. Visible photoluminescence of porous Si // Appl. Phys. Lett., 1990, 57, P. 1046–1049.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Sawada S., Hamada N., Ookubo N. Mechanism of visible photoluminescence of porous silicon // Phys.Rev. B., 1994, 49, № 8, P. 5236–5245.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Sawada S., Hamada N., Ookubo N. Mechanism of visible photoluminescence of porous silicon // Phys.Rev. B., 1994, 49, № 8, P. 5236–5245.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Dimova-Malinovska D., Sendova-Vasileva, Marinova T., Krastev V., Kamenova M., Tzenov N. Correlation between the photoluminescence and chemical bonding in porous silicon // Thin Solid Films, 1996, 276, P. 290– 292.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Dimova-Malinovska D., Sendova-Vasileva, Marinova T., Krastev V., Kamenova M., Tzenov N. Correlation between the photoluminescence and chemical bonding in porous silicon // Thin Solid Films, 1996, 276, P. 290– 292.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Uhlir A. Formation of porous silicon // Bell Syst. Tech., 1956, 35, P. 333–336.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Uhlir A. Formation of porous silicon // Bell Syst. Tech., 1956, 35, P. 333–336.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Theib W. Optical properties of porous silicon // Surf. Sci. Rep., 1997, 29, № 5, P. 92–192.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Theib W. Optical properties of porous silicon // Surf. Sci. Rep., 1997, 29, № 5, P. 92–192.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Уханов Ю.А. Оптические свойства полупроводников. М.: Наука. 1997, 252 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Уханов Ю.А. Оптические свойства полупроводников. М.: Наука. 1997, 252 с.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit8"><label>8</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Орешкин П.Т. Физика полупроводников и диэлектриков. М.: Высш. школа, 1977, 448 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Орешкин П.Т. Физика полупроводников и диэлектриков. М.: Высш. школа, 1977, 448 с.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit9"><label>9</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Горбачев В.В., Спицина Л.Г. Физика полупроводников и металлов. М.: Металлургия, 1976. 368 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Горбачев В.В., Спицина Л.Г. Физика полупроводников и металлов. М.: Металлургия, 1976. 368 с.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit10"><label>10</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Cantin J. L. et al. Anodic oxidation of 𝑝− and p+-type porous silicon // Thin Solid Films, 1996, 276, № 3, P.76–79.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Cantin J. L. et al. Anodic oxidation of 𝑝− and p+-type porous silicon // Thin Solid Films, 1996, 276, № 3, P.76–79.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit11"><label>11</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Belmont O. et al. About the origin and the mechanisms involved in the cracking of highly porous silicon layers under capillary stresses // Thin Solid Films, 1996, 276, № 3, P. 219–222.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Belmont O. et al. About the origin and the mechanisms involved in the cracking of highly porous silicon layers under capillary stresses // Thin Solid Films, 1996, 276, № 3, P. 219–222.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit12"><label>12</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Горячев Д.Н., Беляков Л.В., Сресели О.М. О механизме образования пористого кремния // Физ. и техн. полупроводн., 2000, 34, Вып. 5, С. 1130-1134.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Горячев Д.Н., Беляков Л.В., Сресели О.М. О механизме образования пористого кремния // Физ. и техн. полупроводн., 2000, 34, Вып. 5, С. 1130-1134.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit13"><label>13</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Petrova-Koch V., Muschik T. The relation between the visible and the infrared luminescence bands in porous silicon // Thin Solid Films, 1995, 255, № 5, P. 246-249.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Petrova-Koch V., Muschik T. The relation between the visible and the infrared luminescence bands in porous silicon // Thin Solid Films, 1995, 255, № 5, P. 246-249.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit14"><label>14</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Кашкаров П.К., Константинова Е.А., С. А. Петрова, Тимошенко В.Ю. Юнович А.Э. К вопросу о температурной зависимости фотолюминесценции пористого кремния // Физ. и техн. полупроводн., 1997, Т. 31, Вып. 6, С. 745–748.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Кашкаров П.К., Константинова Е.А., С. А. Петрова, Тимошенко В.Ю. Юнович А.Э. К вопросу о температурной зависимости фотолюминесценции пористого кремния // Физ. и техн. полупроводн., 1997, Т. 31, Вып. 6, С. 745–748.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit15"><label>15</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Ян Д.Т. Влияние лазерного возбуждения на фотолюминесценцию анодно окисленного пористого кремния // Опт. журнал, 2010, 77, № 8, C. 67–71.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Ян Д.Т. Влияние лазерного возбуждения на фотолюминесценцию анодно окисленного пористого кремния // Опт. журнал, 2010, 77, № 8, C. 67–71.</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
