Preview

Наносистемы: физика, химия, математика

Расширенный поиск

Получение топограмм с использованием импульсного Терагерцового рефлектометра

Аннотация

   Рассмотрены возможности экспериментальной установки регистрации временной формы импульсного ТГц излучения, отраженного от объектов (ТГц рефлектометр) для импульсной терагерцовой рефлектометрической томографии визуализации внутренней структуры объектов, прозрачных в ТГц диапазоне частот. Получены двух- и трехмерные топограммы тестового объекта, определены пределы разрешения данного метода. Выявлено, что пространственно-временная регистрация формы отраженных импульсов позволяет достаточно эффективно формировать топограммы поверхностей с глубиной рельефа в диапазоне от 1 до 1000 мкм.

Об авторах

М. С. Куля
Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики
Россия

Санкт-Петербург



Я. В. Грачев
Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики
Россия

Санкт-Петербург



В. Г. Беспалов
Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики
Россия

Санкт-Петербург



Список литературы

1. Glagolewa-Arkadiewa A. Short electromagnetic waves of wavelength up to 82 microns. // Nature. — 1924. — V. 113, № 2844. — Р. 640.

2. Геккер И. В., Юрьев В. И. Субмиллиметровые волны. — М: Госэнергиздат, 1961. — 60 с.

3. Zhang XC., Xu J. Introduction to THz wave photonics. — NY.: Springer, 2009. — 246 р.

4. Lee Yun-Shik. Principles of terahertz science and technology. Springer Science+Business Media, LLC, XII 2009, 340 p.

5. Беспалов В. Г., Городецкий А. А., Денисюк И. Ю. и др. Методы генерации сверхширокополосных терагерцовых импульсов фемтосекундными лазерами. // Оптический журнал. — 2008. — Т.75, № 10. — С. 636–642.

6. Matsuura S., Tani M. and Sakai K. Generation of coherent terahertz radiation by photomixing in dipole antennas. // Applied Physics Letter. — 1997. — V. 70, № 5. — P. 559–561.

7. Cheville R. A., Reiten M. T., O’Hara J., Grischkowsky D. R. THz time domain sensing and imaging. // Proc. SPIE: Terahertz for Military and Security Applications II. — 2004. — № 5411. — P. 196–206.

8. Hu B.B. and Nuss M.C. Imaging with terahertz waves // Optics Letters. — 1995. — V. 20, № 16 — P. 1716–1718.

9. Mittleman D., Jacobsen R., Nuss M.C. T-Ray Imaging. // IEEE Journal of Selected Topics in Quantum Electronics. — 1996. — V. 2, № 3. — P. 679—692.

10. Woodward R.M., Cole B.E., Wallace V.P., Pye R.J., Arnone D.D., Linfield E.H., Pepper M. Terahertz pulse imaging in reflection geometry of human skin cancer and skin tissue // Phys. Med. Biol. — 2002. —V. 47, № 21 — P. 3853–3863.

11. Wang S. and Zhang X-C. Pulsed terahertz tomography. // J. Phys. D: Appl. Phys. — 2004. — 37, R1-36. — P. 964.

12. Bespalov V.G., Gorodetsky A.A. THz Pulse Holography. // Journal of Holography and Speckle. — 2009. — V. 5, № 1. — P. 62–66.

13. Chen Chia-Chu, Lee Dong-Joon, Pollock Tresa, Whitaker John F. Pulsed-terahertz reflectometry for health monitoring of ceramic thermal barrier coatings. // Opt. Express. — 2010. — V. 18, № 4. — P. 3477–3486.

14. Куля М.С., Грачев Я.В., Городецкий А.А., Беспалов В.Г. Спектрально-временная эволюция электрического поля терагерцового импульса при дифракции Фраунгофера на щели // Научно-технический вестник Санкт-Петербургского государственного университета информационных технологий, механики и оптики. — 2011. — № 6(76). — С. 22–27.

15. Беспалов В.Г., Городецкий А.А., Грачев Я.В., Козлов С.А., Новоселов Е.В. Импульсный терагерцовый рефлектометр. // Научно-технический вестник Санкт-Петербургского государственного университета информационных технологий, механики и оптики. — 2011. – № 1(71). — С. 19–24.


Рецензия

Для цитирования:


Куля М.С., Грачев Я.В., Беспалов В.Г. Получение топограмм с использованием импульсного Терагерцового рефлектометра. Наносистемы: физика, химия, математика. 2012;3(5):33-41.

For citation:


Kulya M.S., Grachev Ya.V., Bespalov V.G. Topograms production with use of pulsed teraherz reflectometer. Nanosystems: Physics, Chemistry, Mathematics. 2012;3(5):33-41. (In Russ.)

Просмотров: 27


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 2220-8054 (Print)
ISSN 2305-7971 (Online)